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1.
集成电路测试基础
著者: 谷颜秋
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN407/13
2.
集成电路封装技术
出版社: 西安电子科技大学出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN405.94/12
3.
集成电路测试技术
著者: 武乾文
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN407/14
4.
著者: 李亮
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN402/63
5.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN4/143
6.
集成电路敏捷设计
著者: 萨林
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN402/64
7.
出版社: 人民邮电出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN4/140/2
8.
出版社: 国防工业出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN402/97
9.
著者: 吴秀山
出版社: 化学工业出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN74/9
10.
著者: 林海军
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN4/161